日本Otsuka界達(dá)電位ELSZ-2000-深圳華普通用科技有限公司

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產(chǎn)品信息 日本Otsuka界達(dá)電位ELSZ-2000

特點

使用了新型高感度APD，感度提升及縮短測量時間
通過測量自動溫度梯度空間，可分析出変性?相轉(zhuǎn)移溫度
可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度
追加了大范圍的分子量測量及解析功能
懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量
實測cell內(nèi)的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結(jié)果
高鹽濃度溶液的ZETA電位測量
小面積樣品的平板ZETA電位測量

用途

適用于界面化學(xué)、無機(jī)物、半導(dǎo)體、高分子、生物、藥學(xué)、醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中，除了微粒子外，膜及平板狀樣品的表面科學(xué)的基礎(chǔ)研究、應(yīng)用研究。
新功能性材料領(lǐng)域

燃料電池相關(guān)（碳納米軟管、富勒烯、功能性膜、觸媒、納米金屬）
生物納米相關(guān)（納米膠囊、人造分子、DDS、生物納米粒子）、納米氣泡等

陶瓷?色材工業(yè)領(lǐng)域

陶瓷（二氧化硅?氧化鋁?氧化鈦等）
無極膠體溶液的表面改質(zhì)?分散?凝集控制
顏料（炭黑?有機(jī)顏料）的分散?凝集控制
懸濁狀樣品
彩色膜
浮遊選礦物的捕集材吸著的研究

半導(dǎo)體領(lǐng)域

查明附著在硅體晶圓的異物的結(jié)構(gòu)
研磨剤或添加剤和晶圓表面的相互作用的研究
CMP懸濁液

高分子?化學(xué)工業(yè)領(lǐng)域

Emulsion（塗料?膠水）的分散?凝集控制、乳膠的表面改質(zhì)（醫(yī)藥用?工業(yè) 用）
高分子電解質(zhì)（聚乙烯磺酸鹽?聚碳酸等）功能性的研究、功能性納米粒子
紙?紙漿的制紙工程控制及紙漿添加材料的研究

醫(yī)藥品?食品工業(yè) 領(lǐng)域

Emulsion（食品?香料?醫(yī)療?化妝品）的分散?凝集控制、蛋白質(zhì)的功能性
脂質(zhì)體?囊泡的分散?凝集控制、界面活性剤（膠粒）的功能性

原理

粒徑測量原理：動態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）
溶液中的粒子會呈現(xiàn)出依賴于粒徑的布朗運動。因此，當(dāng)光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動，小粒子浮動速度快，大粒子浮動速度慢。
通過光子相關(guān)法解析這種浮動，從而求出粒徑或粒度分布。

ZETA電位測量原理：電氣泳動光散射法（激光多普勒法）
對溶液中的粒子施加電場，便可觀測到粒子所帶電荷的電氣泳動。因此，可從此電氣泳動速度中求出ZETA電位?電氣泳動移動度。
電氣泳動光散射法，是用光照射做電氣泳動的粒子，根據(jù)所得到的散射光的多普勒轉(zhuǎn)換量求電氣泳動度。因此，也被稱作激光多普勒法。

電氣浸透流實測的優(yōu)點
所謂電氣浸透流指的是ZETA電位測量中，在cell內(nèi)引起的溶液的流動的現(xiàn)象。如果cell壁面帶電，溶液中的對離子會集中到cell壁面。
如果帶有電場，對離子會集中到反向符號的電極側(cè)。為了填補其流動，在cell中央附近區(qū)域會出現(xiàn)逆流現(xiàn)象。
實測粒子表面的電氣泳動移動速度，通過解析電氣浸透流，求出正確的靜止面，當(dāng)然此靜止面已包括了樣品的吸附或沈降等的cell污跡的影響，然后求出真正的ZETA電位?電氣泳動移動度。（參考森?岡本公式）

森?岡本公式
考慮了電氣浸透流的cell內(nèi)的泳動速度的解析

Uobs(z)=AU0(z/b)2+⊿U0(z/b)+(1-A)U0+Up
z:距離cell中心位置的距離
Uobs(z):在cell中的位置z中的表面的移動度
A=1/[(2/3)-(0.420166/k)]
k=a/b:2a和2b是電氣泳動cell斷面的橫、縱的長度．但是、a>b
Up:粒子的真正的移動度
U0:在cell的上下壁面中的平均移動度
⊿U0:在cell的上下壁面中的移動度的差

電氣浸透流的多成分解析的應(yīng)用
因ELSZ serie實測了cell內(nèi)的多個點的表面的電氣泳動移動度，在測量數(shù)據(jù)內(nèi)可確認(rèn)出ZETA電位分布的在現(xiàn)性及判斷噪音峰值。

平板cell的應(yīng)用
平板cell指的是在箱狀的石英cell上面，密集的放置平板樣品，使之成一體化的構(gòu)造。根據(jù)cell的深度方向的各個級別，實測monitor粒子表面的電氣泳動移動度
根據(jù)得到的的電氣浸透profile解析在固體界面中的電氣浸透流的速度，進(jìn)而求出平板樣品表面的ZETA電位。

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理
因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。
現(xiàn)在，ELSZseries的標(biāo)準(zhǔn)cell可對應(yīng)低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。

分子量測量原理：靜的光散射法（光子相關(guān)法）
靜的光散射法作為簡便的測量絕對分子量的手法而被人們熟知。
測量原理指的是用光照射溶液中分子，根據(jù)所得的散射光的絕對值求出分子量。即，利用了大分子所得散射光強，小分子所得散射光弱的現(xiàn)象進(jìn)行測量。
實際上，濃度不同，所得的散射光強度也不同。因此，要實測數(shù)點的不同濃度的溶液散射強度，并根據(jù)以下公式，橫軸設(shè)為濃度，縱軸設(shè)為散射強度的倒數(shù)，
Kc／R（θ）為plot。這被稱作Debye plot。
濃度為零，外插切片（c=0）的倒數(shù)，并求出分子量Mw，根據(jù)初期斜面求出第二維里系數(shù)A2。
分子量為大分子時，散射強度出現(xiàn)角度依存性，通過測量不同的散射角度（θ）的散射強度，可知出分子量的測量精度提高，及分子大范圍的指標(biāo)的慣性半徑。
角度固定測量時，輸入推算的慣性半徑，并對角度依存測量進(jìn)行相應(yīng)的補正，便可提高分子量的測量精度。

第二維里系數(shù)定義
表示溶媒中分子間的斥力和引力的相互作用，溶媒分子相對應(yīng)的親和性或結(jié)晶化的標(biāo)準(zhǔn)。
A2是正時，則是親和性較高的高質(zhì)溶媒，分子間的斥力強，更穩(wěn)定。
A2是負(fù)時，則是親和性較低的低質(zhì)溶媒，分子間的引力強，易凝集。
A2＝0時，溶媒被稱為西他溶媒、或溫度為西他溫度，斥力和引力達(dá)到平衡狀態(tài)，易結(jié)晶。

式樣

ELSZ-2000Z
測量原理雷射都卜勒法（Laser Doppler）
光源高功率、高穩(wěn)定性半導(dǎo)體鐳射
感光元件高感度APD
樣品容器標(biāo)準(zhǔn)樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器
溫度范圍 0 ~ 90℃ （具備梯度功能）
電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz
尺寸 380（W） × 600（D） × 210（H）mm
重量約22kg

測量范例

印表機(jī)墨水界達(dá)電位測量